特點(diǎn)

優(yōu)勢(shì)

測(cè)量電阻范圍為 10n? 至 100M?

測(cè)量范圍非常廣，專門用于超低電阻測(cè)量，以檢定高導(dǎo)電性材料、納米材料和超導(dǎo)材料。

同步的電流脈沖源，測(cè)量時(shí)間短至 50μs

限制元器件（如納米器件和納米材料）中的功耗，如果以非常低的功率電平進(jìn)行測(cè)試，這些元器件很容易損壞。

增量模式電流反向、電阻測(cè)量技術(shù)

通過消除熱偏移影響以及將讀數(shù)噪聲降低到 30nV p-p 噪聲（典型值），進(jìn)行精確的超低電阻測(cè)量?？梢詫?duì)多個(gè)讀數(shù)進(jìn)行平均，以更大程度地降低噪聲。

微分電導(dǎo)測(cè)量

比其他電導(dǎo)測(cè)量技術(shù)的速度快十倍，噪聲更小。無需平均多次掃描的結(jié)果，即可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的測(cè)量。

納伏表和電流源接口無縫配合

在進(jìn)行電導(dǎo)與電阻測(cè)量時(shí)，兩臺(tái)儀器可以像一臺(tái)儀器一樣運(yùn)行。

增量、微分電導(dǎo)和脈沖模式產(chǎn)生最小的電流瞬變

可以檢定可易被電流尖峰損壞的設(shè)備。