武漢嘉儀通 MRS-3/MRS-3RT薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)專門針對薄膜材料的Seebeck系數(shù)和電阻率測量，測溫范圍達(dá)到81K~700K，采用動態(tài)法測量Seebeck系數(shù),避免了靜態(tài)測量在溫差測量上的系統(tǒng)誤差,測量更準(zhǔn)確。
薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)產(chǎn)品特點
專門針對薄膜材料的Seebeck系數(shù)和電阻率測量。
測試環(huán)境溫度范圍達(dá)到81K~700K。
采用動態(tài)法測量Seebeck系數(shù)，避免了靜態(tài)測量在溫差測量上的系統(tǒng)誤差，測量更準(zhǔn)確。
采用四線法測量電阻率。
熱電偶探針經(jīng)過嚴(yán)格的篩選配對保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確和穩(wěn)定。
軟件操作簡單，智能化可實現(xiàn)全自動模式。
薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)測試實例
標(biāo)準(zhǔn)鎳帶測試結(jié)果
東華大學(xué)MoS2測試結(jié)果
MRS-3對Bi2Te3薄膜測試結(jié)果（中國科學(xué)院電工研究所提供樣品）
MRS-3對Bi2Te3薄膜測試結(jié)果（中國科學(xué)院電工研究所提供樣品）
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